★☆★第3回JST-SENTANシンポジウム「量子ビームの高度利用と先端計測」参加者募集★☆★
電子顕微鏡が開発され市販されてから既に70年の歳月が経ちました。
荷電ビ−ムを用いる顕微鏡は工学顕微鏡とは比べ物にならない空間分解能を持ちます。近年、ナノテクノロジーの発展により、対象物がより微細なものとなり、さらにその性質、材質までをも観察・測定したいという要求が出ています。これは、「ものの形態を見る」これまでの電子顕微鏡から、「ものの性質をも測定する」機器へと変革が求められていることに他なりません。
今回、最新のビーム技術により、従来の顕微鏡から、イオン、陽電子、スピン偏極等のビームを用いて物性をも測定する顕微分析機器の最新の開発状況を紹介し、その将来性を展望します。
■開催日:平成18年6月23日(金)13:00〜17:50
■会 場:ホテル・パークハイアット東京 39階「ボールルーム」
東京都新宿区西新宿3-7-1-2(TEL:03-5322-1234)
JR新宿駅より徒歩12分、都営大江戸都庁前駅より徒歩8分
http://www.the-convention.co.jp/3jst-sentan/access.html
■主 催:独立行政法人 科学技術振興機構
■オーガナイザー:澤田 嗣郎(東京農工大学 教授、東京大学名誉教授)
(JST先端計測分析技術・機器開発事業 開発総括)
■参加費:無料
<参加お申込み>
参加をご希望の方は、下記HPの参加申込みフォームよりお申込ください。
http://www.the-convention.co.jp/3jst-sentan/
【プログラム】
13:00〜13:10 開会挨拶
澤田 嗣郎(東京農工大学 教授、東京大学名誉教授/
JST先端計測分析技術・機器開発事業 開発総括)
13:10〜14:00 特別講演 『電子波で観る量子の世界』
外村 彰(株式会社日立製作所 フェロー)
14:00〜14:50 講演1『イオンビームによるナノメートル非破壊可視化技術の開発』
高井 幹夫(大阪大学 教授)
平成16年度採択機器開発プログラム
「非破壊3次元TOF−RBS分析装置の開発」チームリーダー
15:10〜16:00 講演2『高分解能スピン偏極電子顕微鏡 ナノ領域の磁性を見 』
小池 和幸(北海道大学 教授)
平成16年度採択機器開発プログラム
「高分解能スピン偏極走査電子顕微鏡」チームリーダー
16:00〜16:50 講演3『スピン偏極電子源の開発〜高エネルギー加速器用から表面電子顕微鏡利用へ〜』
中西 彊(名古屋大学 教授)
平成17年度採択要素技術プログラム
「スピン偏極電子源」チームリーダー
16:50〜17:40 講 演4『消える魔球 陽電子で何がわかるか 』
藤浪 眞紀(千葉大学 助教授)
平成17年度採択機器開発プログラム
「透過型陽電子顕微鏡の開発」チームリーダー
17:40〜17:50 閉会挨拶
皆様のご参加を心よりお待ち申し上げております。
*************************
[問合せ先] 第3回JST-SENTANシンポジウム事務局
〒107-0062 東京都港区南青山2-6-12 アヌシー青山2F
株式会社ザ・コンベンション内
電 話:03-3423-4180 FAX:03-3423-4108
E-mail:sentan-sympo3@the-convention.co.jp
URL:http://www.the-convention.co.jp/3jst-sentan/
*************************