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「応力発光による構造体の新しい診断技術フォーラム2011」開催のご案内
「応力発光による構造体の新しい診断技術フォーラム2011」を開催します。
多くの皆様の御参加を、お待ちしております。
■日時：2011年11月11日(金)～12日(土)
■会場：福岡国際会議場
■共催： （独）科学技術振興機構（JST）-CREST、
(独)産業技術総合研究所、九州大学
■参加登録：無料、下記ＵＲＬより、事前登録をお願い致します。
http://staff.aist.go.jp/cn-xu/ML-Forum2011/registration.html
■トピックス：
構造物の計測・診断、非破壊検査、可視化技術、発光材料などについて
総合的に議論する場として企画しています。
1. 診断技術の現状、問題点、将来性：非破壊検査、構造物診断の現状等
2. 新材料・新センサー・新コンセプト・新システム
：応力発光、赤外光、メカノクロミクス等
3. 応力発光体の応用事例紹介
：橋梁のモタリング・配管内部の欠陥診断等
■講師（基調講演）の先生方
◇ 魚本健人 氏 ／（独)土木研究所 理事長
◇ J.S. LENG氏／Harbin Institute of Technology, professor (CHINA)
その他、国内外より20人の先生方による招待講演を予定。
詳細案内・参加申込は下記をご覧下さい。
http://staff.aist.go.jp/cn-xu/ML-Forum2011/
■お問い合わせ：
産業技術総合研究所・生産計測技術研究センター・応力発光技術チーム
ml-symposium@m.aist.go.jp
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