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★☆★第３回JST-SENTANシンポジウム「量子ビームの高度利用と先端計測」参加者募集★☆★　

　電子顕微鏡が開発され市販されてから既に70年の歳月が経ちました。
荷電ビ−ムを用いる顕微鏡は工学顕微鏡とは比べ物にならない空間分解能を持ちます。近年、ナノテクノロジーの発展により、対象物がより微細なものとなり、さらにその性質、材質までをも観察・測定したいという要求が出ています。これは、「ものの形態を見る」これまでの電子顕微鏡から、「ものの性質をも測定する」機器へと変革が求められていることに他なりません。
　今回、最新のビーム技術により、従来の顕微鏡から、イオン、陽電子、スピン偏極等のビームを用いて物性をも測定する顕微分析機器の最新の開発状況を紹介し、その将来性を展望します。

■開催日：平成１８年６月２３日（金）１３：００〜１７：５０

■会　場：ホテル・パークハイアット東京　39階「ボールルーム」
　　　　　　東京都新宿区西新宿3-7-1-2（ＴＥＬ：03-5322-1234）
　　　　　　ＪＲ新宿駅より徒歩12分、都営大江戸都庁前駅より徒歩8分
　　　　　　http://www.the-convention.co.jp/3jst-sentan/access.html

■主　催：独立行政法人　科学技術振興機構